浙江舟山高低壓開關(guān)柜通電試驗(yàn)臺(tái)TH-300 施加電源線電壓到 RCD 的 L 和 N 端子上。在按被測(cè)試裝置上的 Star（t 開始）時(shí)，被測(cè)試裝置的內(nèi)部負(fù)載被連接到校準(zhǔn)裝置的連接器上。當(dāng)測(cè)得的電流 達(dá)到標(biāo)稱跳閘電流和電流系數(shù)乘積所規(guī)定的值時(shí)，計(jì)時(shí)器被觸發(fā)。當(dāng)計(jì)時(shí)器內(nèi) 的時(shí)間與所選擇的跳閘時(shí)間相符時(shí)，斷開輸出連接器并顯示所測(cè)得的值。5.4 自動(dòng)跳脫電流（AUTO RAMP）的校準(zhǔn)漏電開關(guān)測(cè)試儀的自動(dòng)跳脫電流（AUTO RAMP）在校準(zhǔn)裝置的動(dòng)作電流測(cè) 試模式中進(jìn)行校準(zhǔn)：1.將被校漏電開關(guān)測(cè)試儀選到自動(dòng)跳脫電流（AUTO RAMP）測(cè)試模式，并 設(shè)置其動(dòng)作電流值。2. 按校準(zhǔn)裝置 功能鍵，切換到動(dòng)作電流測(cè)試模式。3. 設(shè)置動(dòng)作電流。設(shè)置校準(zhǔn)裝置動(dòng)作電流與被校漏電開關(guān)測(cè)試儀動(dòng)作電流值 相等。（實(shí)際使用過程中，由于被校準(zhǔn)漏電開關(guān)測(cè)試儀的動(dòng)作電流值誤差較大， 因此，可以將校準(zhǔn)裝置的動(dòng)作電流值設(shè)置的稍微小一些，在 80％I△n～I(xiàn)△n 之間。 如：被校漏電開關(guān)測(cè)試儀是 30mA，那么校準(zhǔn)裝置可以設(shè)置為 24mA ～30mA 中任意一個(gè)稍微小一些的電流值）。設(shè)置動(dòng)作電流值，按 -“數(shù)字鍵”- ， 若需更改設(shè)置則按 。4.設(shè)置電流因子。根據(jù) JJF1283-2011 的要求，需對(duì)漏電開關(guān)測(cè)試儀的自動(dòng)跳 脫電流（AUTO RAMP）每檔的 0.5 倍動(dòng)作電流值和 1 倍動(dòng)作電流值分別進(jìn)行校 準(zhǔn)，故可分別設(shè)置校準(zhǔn)裝置的電流因子為 1：（0.5＊I）和 2：(1＊I），各測(cè)量一次。按 -“數(shù)字鍵”- 。5.設(shè)置分?jǐn)鄷r(shí)間。由于對(duì)漏電開關(guān)測(cè)試儀的自動(dòng)跳脫電流（AUTO RAMP） 分?jǐn)鄷r(shí)間沒有校準(zhǔn)要求，故分?jǐn)鄷r(shí)間可任意設(shè)置為一個(gè)在 20ms~90％T 之間的值，一般設(shè)為 50ms 左右。

浙江舟山高低壓開關(guān)柜通電試驗(yàn)臺(tái)微機(jī)型模擬斷路器是測(cè)試?yán)^電保護(hù)裝置必不可少的設(shè)備。該產(chǎn)品具有設(shè)計(jì)思想新穎、可靠耐用、接線方便、體積小、重量輕等特點(diǎn)。它與各類微機(jī)型繼電保護(hù)測(cè)試裝置配合使用，可以完成電力系統(tǒng)繼電保護(hù)部門各電壓等級(jí)的成套繼電保護(hù)裝置的實(shí)驗(yàn)和檢測(cè)工作，確保成套繼電保護(hù)裝置工作的完整性，提高裝置的校驗(yàn)質(zhì)量。本裝置是以微處理器核心設(shè)計(jì)而成?？傮w結(jié)構(gòu)上分為CPU主控單元，信號(hào)輸入單元，信號(hào)輸出單元，跳合閘時(shí)間輸入單元，跳合閘電流設(shè)置單元和跳合閘動(dòng)作繼電器等 ?？傮w結(jié)構(gòu)框圖如下：一．技術(shù)指標(biāo)1．跳閘時(shí)間： 0-500ms 2．合閘時(shí)間： 0-500ms 3．跳閘電流： 1A、2A、3A、4A、5A(可根據(jù)用戶要求定制)4．合閘電流： 1A、2A、3A、4A、5A(可根據(jù)用戶要求定制)5．跳合閘電壓 DC220V、DC110V6．直流電源輸出： 30V/10A –300V/10A可調(diào) (選配)7．輔助觸點(diǎn)容量A，B，C： AC220V 3A8．環(huán)境條件： 溫度 -25°---＋55°C相對(duì)濕度： ≤80％9．體積360×220×180mm310．重量4Kg二．工作原理模擬斷路器的輸入分別接入被測(cè)試成套繼電保護(hù)裝置的分相跳合閘回路或三跳三合回路；模擬斷路器的跳合閘輸出分別引入微機(jī)測(cè)試裝置，試驗(yàn)中由它們共同完成跳閘、合閘和重合閘的過程。