寧夏銀川手持式超聲波局部放電檢測儀?相位模式由于局部放電信號的產(chǎn)生與工頻電場具有相關(guān)性，因此可以將工頻電壓作為參考量，通過觀察被測信號的發(fā)生相位是否具有聚集效應(yīng)來判斷局部放電是否因設(shè)備內(nèi)部放電引起的。圖5-14US相位模式圖說明橫軸為角度（0～360°），縱軸為信號幅值（mV）。?脈沖模式微粒每碰撞殼體一次，就發(fā)射一個寬帶瞬態(tài)聲脈沖，它在殼體內(nèi)來回傳播。這種顆粒的聲信號是顆粒端部的局部放電和顆粒碰撞殼體的混合信號。脈沖模式可記錄微粒每次碰撞殼體時的時間和產(chǎn)生的脈沖幅值，并以飛行圖的形式顯示出來。圖5-15US脈沖模式圖說明橫軸為周期（ms），縱軸為信號幅值（mV）。?US—監(jiān)測模式監(jiān)測模式是保證GIS長期可靠運行的有效手段。通過對30個周期內(nèi)設(shè)備狀態(tài)的實時監(jiān)測，和對一定時間段內(nèi)設(shè)備運行狀態(tài)的查看，可及時準(zhǔn)確的發(fā)現(xiàn)問題。圖5-16US監(jiān)測模式圖表5-5操作指示表當(dāng)前狀態(tài)操作按鍵說明運行停止F1停止測量運行設(shè)置F4設(shè)置試驗以及通道項目停止運行F1開始測量停止保存數(shù)據(jù)F2保存監(jiān)測數(shù)據(jù)信息停止設(shè)置F4設(shè)置試驗以及通道項目停止保存背景確認(rèn)將當(dāng)前測量數(shù)值保存為背景值

寧夏銀川手持式超聲波局部放電檢測儀依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)本儀器引用的標(biāo)準(zhǔn)主要有：DL/T500-2009電壓檢測儀使用技術(shù)條件GB/T4208-2008外殼防護等級的分類（IP代碼）GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A: 低溫試驗方法GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 B: 高溫試驗方法GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 Db: 交變濕熱試驗方法GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊試驗方法GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則:振動 (正弦)試驗方法GB/T17626.2-2006電磁兼容性試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度性試驗（IEC 61000-4-2：1995）GB/T17626.3-2006電磁兼容性試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗（ IEC 61000-4-3：1995）GB/T17626.4-2008電磁兼容性 試驗和測量技術(shù) 快速瞬變電脈沖群抗擾度試驗（ IEC 61000-4-4：1995）GB/T17626.5-2008電磁兼容性試驗和測量技術(shù) 浪涌（沖擊）抗擾度試驗（ IEC 61000-4-5：1995）GB/T17626.11-1999電磁兼容性試驗和測量技術(shù) 電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗（ IEC 61000-4-11：1994）GB/T17626.7-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測量和測量儀器導(dǎo)則GB/T19862-2005工業(yè)自動化儀表絕緣電阻、絕緣強度技術(shù)要求和試驗方法3、功能說明本儀器主要由主機、傳感器和電纜線組成，主機外觀如圖1：圖1 主機3.1主機內(nèi)置高速AD采集卡、TFT液晶顯示器、主處理器和鋰電池及其管理板。使用FPGA對高速采樣芯片進行控制，如啟動采樣、停止采樣、數(shù)據(jù)同步、高速數(shù)據(jù)存取以及數(shù)據(jù)通信。