上海局部放電檢測(cè)儀檢測(cè)流程局部放電檢測(cè)流程1)設(shè)備連接：連接測(cè)試儀的各個(gè)部件，固定傳感器。2)開(kāi)機(jī)檢測(cè)開(kāi)機(jī)后系統(tǒng)自檢，確認(rèn)各個(gè)檢測(cè)通道正常工作。3)設(shè)置參數(shù)：點(diǎn)擊【系統(tǒng)設(shè)置通過(guò)設(shè)置存儲(chǔ)目錄功能新建一個(gè)保存試驗(yàn)數(shù)據(jù)的文件名，后期所有測(cè)量數(shù)據(jù)均存儲(chǔ)在此文件中；再返回模塊進(jìn)入測(cè)量界面，點(diǎn)擊右上角圖標(biāo)可以對(duì)測(cè)量過(guò)程進(jìn)行詳細(xì)的參數(shù)設(shè)置。4)背景檢測(cè)：連接TEV傳感器，將傳感器貼在接地的金屬體上（非測(cè)量源）當(dāng)信號(hào)穩(wěn)定時(shí)按下按鍵，再點(diǎn)擊，記錄下背景值。 信號(hào)檢測(cè)：將傳感器緊貼在檢測(cè)部位。開(kāi)關(guān)柜發(fā)生放電的主要部位為母排（連接處、穿墻套管，支撐絕緣件等）、斷路器，電纜等設(shè)備所對(duì)應(yīng)到開(kāi)關(guān)柜柜壁的位置，這些設(shè)備大部分位于開(kāi)關(guān)柜前面板中部及下部，后面板上部、中部及下部、側(cè)面板的上部、中部及下部（開(kāi)關(guān)柜TEV檢測(cè)部位異常診斷：當(dāng)通過(guò)波形模式檢測(cè)到信號(hào)時(shí)，應(yīng)對(duì)局部放電進(jìn)行診斷與分析，觀察信號(hào)的周期性通過(guò)改變測(cè)量模式記錄和分析信號(hào)。7)數(shù)據(jù)記錄：通過(guò)儀器的記錄功能將數(shù)據(jù)保存：在首頁(yè)中的【檢測(cè)記錄】模塊可查看對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)數(shù)據(jù)，以供后期分析。8)生成報(bào)告：連接Type-c數(shù)據(jù)線，運(yùn)行隨機(jī)附帶的報(bào)告生成軟件，點(diǎn)擊導(dǎo)出數(shù)據(jù)功能，即可將試驗(yàn)過(guò)程中所有數(shù)據(jù)導(dǎo)出到pc端，根據(jù)數(shù)據(jù)庫(kù)以及圖文信息生成巡檢報(bào)告。圖 檢測(cè)部位示意圖6.2US局部放電檢測(cè)流程1)設(shè)備連接：連接測(cè)試儀的各個(gè)部件，固定傳感器)開(kāi)機(jī)檢測(cè)：開(kāi)機(jī)后系統(tǒng)自檢，確認(rèn)各個(gè)檢測(cè)通道正常工作。3)設(shè)置參數(shù)：點(diǎn)擊【系統(tǒng)設(shè)置，通過(guò)設(shè)置[存儲(chǔ)目錄](méi)功能新建一個(gè)保存試驗(yàn)數(shù)據(jù)的文件名，后期所有測(cè)量數(shù)據(jù)均存儲(chǔ)在此文件中；通過(guò)設(shè)置[超聲類型]功能，可以配置試驗(yàn)過(guò)程中對(duì)數(shù)據(jù)的處理方式。再返回模塊進(jìn)入測(cè)量界面，點(diǎn)擊右上角圖標(biāo)可以對(duì)US測(cè)量過(guò)程進(jìn)行詳細(xì)的參數(shù)設(shè)置。背景檢測(cè)將傳感器對(duì)著空曠的地方，當(dāng)信號(hào)保持穩(wěn)定時(shí)按下【停止】按鍵，再點(diǎn)擊記錄背景，記錄下背景值。信號(hào)檢測(cè)：將超聲波傳感器探頭沿著柜體上的縫隙進(jìn)行掃描檢測(cè)，觀察波形變化異常診斷與分析：當(dāng)檢測(cè)到周期性信號(hào)時(shí)進(jìn)行分析，觀察在連續(xù)檢測(cè)模式下50Hz頻率成分，100Hz頻率成分的大小，并與背景信號(hào)比較，看是否有明顯變化。并且開(kāi)展局部放電診斷與分析，包括通過(guò)應(yīng)用相位檢測(cè)模式，時(shí)域波形檢測(cè)模式判斷放電類型；或是挪動(dòng)傳感器位置，尋找信號(hào)值，查明可能的放電位置。