浙江杭州工頻高壓局放試驗裝置 接觸不良的干擾圖形。波形特點：對稱地分布在實驗電壓零點兩側，幅值大致不變，但在實驗電壓峰值附近下降為零。波形粗糙不清晰，低電壓下即出現。電壓升高時，幅值緩慢增加，有時在電壓達到一定值后會完全消失。原因：實驗回路中金屬與金屬不良接觸的連接點；塑料電纜屏蔽層半導體粒子的不良接觸；電容器鋁箔的插等（可將電容器充電然后短路來）可控硅元件的干擾圖形。（圖5—08）波形特點：位置固定，每只元件產生一個獨立訊號。電路接通，電磁耦合效應增強時訊號幅值增加，試驗調壓時，該脈沖訊號會發(fā)生高頻波形展寬，從而占位增加。原因：鄰近有可控硅元件在運行。（6）繼電器、接觸器、輝光管等動作的干擾。（圖 5—09）波形特點：分布不規(guī)則或間斷出現，同試驗電壓無關。原因：熱繼電器、接觸器和各種火花試驗器及有火花放電的記錄器動作時產生。（7）熒光燈的干擾圖形。（圖5—10）波形特點：欄柵狀，幅值大致相同的脈沖，伴有正負半波對稱出現的兩簇脈沖組。原因：熒光燈照明 無線電干擾的干擾圖形。（圖5—11）波形特點：幅值有調制的高頻正弦波，同試驗電壓無關。原因：無線電話、廣播話筒、載波通訊等。（9）電動機干擾的干擾圖形（圖5—12） 圖5—12）波形特點：放電波形沿橢圓基線均勻分布，每個單個訊號呈“山”字形。原因：帶換向器的電動機，如電扇、電吹風運轉時的干擾。