山東淄博局部放電檢測(cè)儀常用試驗(yàn)回路和試驗(yàn)形式5.1、常用試驗(yàn)回路（試品接入輸入單元的方法）5.1.1標(biāo)準(zhǔn)接法電路-并聯(lián)法：試品電容Cx與輸入單元并聯(lián)，它適合于必須接地的試品，這個(gè)電路的缺點(diǎn)是試驗(yàn)變的雜散電容和試品電容Cx并聯(lián)，這雜散電容對(duì)于大容量試品來(lái)說(shuō)固然可以忽略，而對(duì)于小電容試品來(lái)說(shuō)容易引起誤差，當(dāng)然，采用正確的獨(dú)立小方波直接校正法可以避免這種誤差。圖二：并聯(lián)法5.1.2、串聯(lián)法：它實(shí)際上是將Cx與Ck互換一下，讓試品電容Cx與輸入單元串聯(lián)，這種電路要求試品低壓端對(duì)地懸浮，其好處是變壓器對(duì)地雜散電容與耦合電容并聯(lián)。在試品電容小于對(duì)地雜散電容時(shí)可以不接耦合電容器，讓對(duì)地雜散電容來(lái)代替Ck，可給試驗(yàn)帶來(lái)簡(jiǎn)便。本電路的主要缺點(diǎn)是試品高壓擊穿時(shí)可能損壞輸入單元。圖三：串聯(lián)法5.1.3、平衡法：它要求兩個(gè)試品相似，至少電容是同一數(shù)量級(jí)，為了使測(cè)量結(jié)果好，兩試品的介質(zhì)損耗角正切，尤其是它們的頻率關(guān)系相同。本電路的優(yōu)點(diǎn)是可以部分抑制外來(lái)干擾，并可變壓器對(duì)地雜散電容的影響，也可比不平衡電路的試驗(yàn)電壓取得高。它的缺點(diǎn)是，除了需要相似的兩個(gè)試品外，當(dāng)產(chǎn)生放電時(shí)，必須辨別是哪個(gè)試品放電。圖四：平衡法5.1.4、橋式法：這種電路的主要優(yōu)點(diǎn)是對(duì)外來(lái)干擾有額外的抑制作用，因?yàn)橥ㄟ^(guò)電橋的平衡來(lái)抑制掉外干擾的影響，抑制比很高。其缺點(diǎn)是試驗(yàn)電路復(fù)雜，限制條件多，對(duì)試驗(yàn)人員技術(shù)水平有較高要求。圖五：橋式法5.2、常用試驗(yàn)形式5.2.1、工頻試驗(yàn)5.2.2、中頻試驗(yàn)5.2.3、工頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)圖六：局部放電試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)接法電路（直接法的并聯(lián)法）圖中：A－輸入單元的初級(jí)始端；B－輸入單元的初級(jí)末端，C－輸入單元的初級(jí)中心抽頭，E－輸入單元地。